Helmut Fischer Logo 0%
Ware evolutie Ware evolutie Ware evolutie

Welkom bij een
ware
evolutie

Het meten van coatingdikte en het analyseren van materialen heeft nu het volgende kwaliteitsniveau bereikt.
Ervaar nu de voordelen van de krachtige röntgenapparaten van onze nieuwe XDV®-serie.

scroll naar begin

Loop altijd op de zaken vooruit

Onze digitale pulsprocessor DPP+ is de sleutel tot hogere intensiteit met een kortere meettijd. Verhoog nu de puls van je meting met de enorme prestatieverbetering in elk model van onze nieuwe XDV® serie.

Een win-
winsituatie?

De DPP+ stelt nieuwe normen voor de telsnelheid. Daardoor bereik je veel kortere meettijden of een sterk verbeterde standaardafwijking. Dit is een win-winsituatie.

Tot elke uitdaging in staat

We weten hoe veelzijdig het meten van coatingdikte kan zijn. Met de meest veelzijdige software op de markt en een voor de gebruiker geoptimaliseerde bediening, kun je elke uitdaging aan.

Wie kwaliteit zegt, zegt FISCHER

Ervaar de nieuwe XDV® serie van de wereldleider in technologie en zet de standaard voor niet-destructieve en contactloze coatingdiktemeting en materiaalanalyse.

Prestaties op hun best

Ontdek de krachtige modellen uit onze XDV® serie.

XDV®-SDD XDV®-SDD Close-Up XDV®-SDD Close-Up XDV®-µ XDV®-µ Close-Up XDV®-µ Close-Up XDV®-µ LD XDV®-µ LD Close-Up XDV®-µ LD Close-Up
XDV®-SDD XDV®-µ XDV®-µ LD

Tot
50%¹
verbeterde prestatie


4-voudig
verwisselbaar diafragma


6-voudig
verwisselbare filters

De beste XDV®-SDD ooit! Samen met de nieuwe DPP+ krijg je het meest veelzijdige instrument voor enkel- en meerdimensionale coatingdiktemeting en materiaalanalyse.

¹ Toon meer ¹ Toon minder

¹ Aanzienlijk betere standaardafwijking en dus meetcapaciteit of aanzienlijk kortere meettijd in vergelijking met DPP en DPP+.

Tot
50%¹
verbeterde prestatie


Polycapillary
In eigen huis geproduceerd en voortdurend in ontwikkeling²


3 opties
voor de juiste polycapillair³

Ervaar de hoogste stabiliteit en intensiteit met de kleinste meetspots. Met de prestatieverbetering van de DPP+ en in combinatie met de polycapillaire optiek, krijgt u uitstekende meetresultaten.

¹ ² ³ Toon meer ¹ ² ³ Toon minder

¹ Significant betere standaardafwijking en dus meetvermogen of significant kortere meettijd vergeleken DPP met DPP+.

² Polycapillairen, die steeds verder worden ontwikkeld. Hoogwaardige capillaire optiek made by Fischer - 's werelds enige fabrikant van röntgenfluorescentiemeetinstrumenten met een eigen polycapillaire productie.

³ Drie verschillende hoogwaardige polycapillairen beschikbaar - de juiste oplossing voor elk van uw toepassingen: 10 µm halovrij, 20 µm halovrij of 20 µm halo.

Tot
50%¹
verbeterde prestatie


60 µm
kleinste meetpunt


12 mm
grootste meetafstand
- beste in zijn klasse!

Ontdek het hoogtepunt voor complex gevormde kleine testonderdelen. De onvergelijkbare meetafstand in combinatie met de kleinste meetspot maakt de XDV®-μ LD tot het toonaangevende XRF-instrument in de industrie.

¹ Toon meer ¹ Toon minder

¹ Significant betere standaardafwijking en dus meetvermogen of significant kortere meettijd vergeleken DPP met DPP+.

Kijk eens onder de motorkap van de XDV® serie

Ontdek de krachtige modellen van onze XDV® serie. Hier in overzicht of graag als download voor het betreffende model.

XDV®-SDD Download
XDV®-µ Download
XDV®-µ LD Download
Toepassing Metingen van zeer dunne lagen < 0.05 µm en materiaalanalyse in het sub-promille bereik Metingen van kleinste structuren en vlakke componenten, ook van complexe lagenstelsels Metingen van kleinste structuren en complex gevormde componenten, ook van complexe lagenstelsels
Toepassingsvoorbeelden Goud, NiP, sporenanalyse bv. volgens RoHS Lead frames, binddraden, SMD componenten, soldeer bumbs, ENIG/ENEPIG Stekkercontacten, connectorstrips, pinnen en geassembleerde printplaten
Kleinste meetpunt 0.25 mm 20 µm / 10 µm ⌀ 60 µm
Afstand meten 0 mm tot 80 mm 4 mm tot 5 mm / 1.5 mm tot 2 mm Min. 12 mm
Maximale monsterhoogte 140 mm 135 mm 135 mm
Collimator 4-voudig verwisselbaar - -
Polycapillair - 20 µm halo (10 µm of 20 μm halovrij optioneel) 60 µm polycapillair over lange afstand
Primair filter 6-voudig verwisselbaar 4-voudig verwisselbaar 4-voudig verwisselbaar
Detector 50 mm² silicium driftdetector 20 mm² silicium driftdetector (50 mm² optioneel) 50 mm² silicium driftdetector (20 mm² optioneel)
röntgenbuis Microfocus buis met wolfraamanode Microfocus buis met wolfraamanode (molybdeenanode optioneel) Microfocus buis met wolfraamanode (molybdeenanode optioneel)
Bruikbaar steunvlak voor monsters 370mm x 320 mm 370mm x 320 mm (620mm x 530 mm optioneel) 370mm x 320 mm (620mm x 530 mm optioneel)
Goedkeuring Type-goedgekeurde volledige beschermingsinrichting Inherent veilig volgens de Nederlandse stralingswetgeving Inherent veilig volgens de Nederlandse stralingswetgeving
Normen DIN ISO 3497, ASTM B 568 DIN ISO 3497, ASTM B 568, IPC-4552-A/B, IPC-4556 DIN ISO 3497, ASTM B 568, IPC-4552-A/B, IPC-4556

Launchclip

De introductie van een ware evolutie. De XDV® serie van FISCHER schittert in een nieuw ontwerp. Nu standaard uitgerust met de DPP+ processor, verkort je meettijden of verbeter je standaardafwijking als nooit tevoren. Breng je kwaliteitscontrole naar een hoger niveau.

XDV®-Serie

Begin je evolutie met ons

Maak vrijblijvend kennis met de nieuwe XDV® serie.
We zullen het heel graag aan je voorstellen.

.

Waar ben je in geïnteresseerd?
Laat je contactgegevens achter. We nemen zo snel mogelijk contact met je op.