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Verdadera evolución Verdadera evolución Verdadera evolución

Bienvenido a una
verdadera
evolución

La medición del grosor del revestimiento y el análisis de los materiales acaba de alcanzar el siguiente nivel de calidad.
Experimenta ahora las ventajas de los potentes instrumentos de rayos X de nuestra nueva serie XDV®.

desplazarse para empezar

Siempre por delante de la curva

Nuestro procesador digital de impulsos DPP+ es la clave para conseguir una alta intensidad con un tiempo de medición corto. Aumenta el pulso de tu medición ahora con el enorme aumento de rendimiento de cada modelo de nuestra nueva serie XDV®.

¿Ganar
o ganar?

El DPP+ establece nuevos estándares en la tasa de recuento. Como resultado, consigues tiempos de medición mucho más cortos o una desviación estándar significativamente mejorada. Tu medida gana o gana.

A la altura de cualquier reto

Sabemos lo polifacética que puede ser la medición del grosor del revestimiento. Con el software más versátil del mercado y un funcionamiento optimizado para el usuario, puedes afrontar cualquier reto.

Si conoces la calidad, conoces a FISCHER

Experimenta la nueva serie XDV® del líder tecnológico mundial y pon un signo de exclamación en tu medición de espesor de revestimiento y análisis de materiales no destructivos y sin contacto.

Rendimiento al máximo

Descubre los potentes modelos de nuestra serie XDV®.

XDV®-SDD XDV®-SDD Close-Up XDV®-SDD Close-Up XDV®-µ XDV®-µ Close-Up XDV®-µ Close-Up XDV®-µ LD XDV®-µ LD Close-Up XDV®-µ LD Close-Up
XDV®-SDD XDV®-µ XDV®-µ LD

Hasta
50%¹
mejora del rendimiento


4 veces
apertura intercambiable


6 veces
filtros intercambiables

¡El mejor XDV®-SDD de la historia! Junto con el nuevo DPP+, obtienes el instrumento más versátil para la medición del grosor del revestimiento unidimensional y multidimensional, así como para el análisis del material.

¹ Mostrar más ¹ Mostrar menos

¹ Desviación estándar significativamente mejor y, por tanto, capacidad de medición o tiempo de medición significativamente más corto en comparación con DPP a DPP+.

Hasta
50%¹
mejora del rendimiento


Policapilar
De producción propia y en constante desarrollo²


3 opciones
para el policapilar derecho³

Experimenta la mayor estabilidad e intensidad con los puntos de medición más pequeños. Con el aumento de rendimiento del DPP+ y en combinación con la óptica policapilar, obtendrás resultados de medición extraordinarios.

¹ ² ³ Mostrar más ¹ ² ³ Mostrar menos

¹ Desviación estándar significativamente mejor y, por tanto, capacidad de medición o tiempo de medición significativamente más corto en comparación con DPP a DPP+.

² Policapilares, que se desarrollan constantemente. Óptica capilar de alta gama made by Fischer - el único fabricante mundial de instrumentos de medición de fluorescencia de rayos X con producción propia de policapilares.

³ Tres policapilares de alta gama disponibles - la solución adecuada para cada una de sus aplicaciones: sin halo de 10 µm, sin halo de 20 µm o halo de 20 µm.

Hasta
50%¹
mejora del rendimiento


60 µm
punto de medición más pequeño


12 mm
mayor distancia de medición
- ¡el mejor de su clase!

Descubra lo más destacado para las piezas de prueba pequeñas de formas complejas. La incomparable distancia de medición combinada con el punto de medición más pequeño hacen del XDV®-μ LD el instrumento XRF líder del sector.

¹ Mostrar más ¹ Mostrar menos

¹ Desviación estándar significativamente mejor y, por tanto, capacidad de medición o tiempo de medición significativamente más corto en comparación con DPP a DPP+.

Echa un vistazo bajo el capó de la serie XDV®

Descubre los potentes modelos de nuestra serie XDV®. Aquí, en resumen, o con gusto como descarga para el modelo respectivo.

XDV®-SDD Descarga
XDV®-µ Descarga
XDV®-µ LD Descarga
Aplicación Medición de capas muy finas < 0,05 µm y análisis de materiales en el rango subpromilitar Medición de las estructuras más pequeñas y de los componentes planos, también de los sistemas de capas complejas Medición de las estructuras más pequeñas y de los componentes de formas complejas, también de los sistemas de capas complejas
Ejemplos de aplicación Oro, NiP, análisis de trazas, por ejemplo, según RoHS Marcos de plomo, hilos de unión, componentes SMD, topes de soldadura, ENIG/ENEPIG Contactos de enchufes, tiras de conectores, clavijas y placas de circuito impreso ensambladas
Punto de medición más pequeño 0,25 mm 20 µm / 10 µm ⌀ 60 µm
Medir la distancia 0 mm a 80 mm 4 mm a 5 mm / 1,5 mm a 2 mm Min. 12 mm
Altura máxima de la muestra 140 mm 135 mm 135 mm
Colimador 4 veces intercambiable - -
Policapilar - Halo de 20 µm (sin halo de 10 µm o 20 µm opcional) 60 µm policapilares de larga distancia
Filtro primario 6 veces intercambiable 4 veces intercambiable 4 veces intercambiable
Detector Detector de deriva de silicona de 50 mm² Detector de deriva de silicona de 20 mm² (50 mm² opcional) Detector de deriva de silicona de 50 mm² (20 mm² opcional)
Tubo de rayos X Tubo de microenfoque con ánodo de tungsteno Tubo de microenfoque con ánodo de tungsteno (ánodo de molibdeno opcional) Tubo de microenfoque con ánodo de tungsteno (ánodo de molibdeno opcional)
Superficie de apoyo de la muestra utilizable 370mm x 320 mm 370mm x 320 mm (620mm x 530 mm opcional) 370mm x 320 mm (620mm x 530 mm opcional)
Aprobación Dispositivo de protección total homologado Dispositivo de protección total según la ley alemana de protección contra las radiaciones Dispositivo de protección total según la ley alemana de protección contra las radiaciones
Normas DIN ISO 3497, ASTM B 568 DIN ISO 3497, ASTM B 568, IPC-4552-A/B, IPC-4556 DIN ISO 3497, ASTM B 568, IPC-4552-A/B, IPC-4556

Launchclip

Presentando una verdadera evolución. La serie XDV® de FISCHER brilla con un nuevo diseño. Ahora equipado con el procesador DPP+ de serie, reduce tus tiempos de medición o mejora tu desviación estándar como nunca antes. Lleva tu control de calidad al siguiente nivel.

XDV®-Serie

Empieza tu evolución con nosotros

Conoce la nueva serie XDV® sin compromiso.
Estaremos encantados de presentártelo.

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