XDV®系列的具体配置
了解我们强大的XDV®系列仪器。
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XDV®-SDD
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XDV®-µ
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XDV®-µ LD
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| 应用 | 测量<0.05μm的极薄镀层，和合金元素的痕量分析 | 测量最小的结构和平面样品，也包括复杂的镀层结构 | 测量最小的结构和复杂形状的样品，还有复杂的镀层结构 |
| 应用实例 | Au、NiP、痕量分析，例如RoHS检测 | 引线框架、粘合线、SMD元件、Solder Bumbs、ENIG/ENEPIG | 接插件、连接带、插针和装配好的印刷电路板 |
| 最小测量点 | 0.25 mm | 20 µm / 10 µm | ⌀ 60 µm |
| 测量距离 | 0 至 80 mm | 4 mm 至 5 mm / 1.5 mm 至 2 mm | Min. 12 mm |
| 最大样品高度 | 140 mm | 135 mm | 135 mm |
| 准直器 | 4种可切换 | - | - |
| 多毛细管 | - | 标准20 μm (10μm 或 20μm 无光晕可选 20微米的光晕) | 60 µm 长距离多毛细管 |
| 初级滤波器 | 6种可切换 | 4种可切换 | 4种可切换 |
| 探测器 | 50 mm² 硅漂移探测器 | 20 mm² 硅漂移探测器 (50 mm² 可选) | 50 mm² 硅漂移检测器 (20 mm² 可选) |
| X射线管 | 带钨靶的微聚焦射线管 | 带钨靶的微聚焦射线管 (钼靶可供选择) | 带钨靶的微聚焦射线管 (钼靶可供选择) |
| 样品放置区域 | 370 mm x 320 mm | 370 mm x 320 mm (620 mm x 530 mm 可选) | 370 mm x 320 mm (620 mm x 530 mm 可选) |
| 许可 | 具有型号认证的全保护仪器 | 符合德国辐射防护法的全面保护仪器 | 符合德国辐射防护法的全面保护仪器 |
| X射线标准 | DIN ISO 3497, ASTM B 568 | DIN ISO 3497, ASTM B 568, IPC-4552-A/B, IPC-4556 | DIN ISO 3497, ASTM B 568, IPC-4552-A/B, IPC-4556 |
