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Bem-vindo a uma
verdadeira
evolução

Medir a espessura do revestimento e analisar os materiais acaba de atingir o próximo nível de qualidade.
Experimente agora os benefícios dos poderosos instrumentos de Raios-X da nossa nova série XDV®.

rolar para começar

Sempre à frente da curva

Medir a espessura do revestimento e analisar os materiais acaba de atingir o próximo nível de qualidade. Experimenta agora os benefícios dos poderosos instrumentos de Raios-X da nossa nova série XDV®.

Ganhas
ou ganhas?

O DPP+ estabelece novos padrões na taxa de contagem. Como resultado, consegue tempos de medição muito mais curtos ou um desvio padrão significativamente melhorado. A tua medida ganha ou ganha.

Até qualquer desafio

Nós sabemos como a medição da espessura do revestimento pode ser multifacetada. Com o software mais versátil do mercado e a operação otimizada pelo usuário, pode enfrentar qualquer desafio.

Quem conhece qualidade conhece FISCHER

Experimente a nova série XDV® do líder global em tecnologia e coloque um ponto de exclamação na tua medição não destrutiva e sem contacto da espessura do revestimento e análise do material.

Desempenho no seu melhor

Descobre os modelos poderosos da nossa série XDV®.

XDV®-SDD XDV®-SDD Close-Up XDV®-SDD Close-Up XDV®-µ XDV®-µ Close-Up XDV®-µ Close-Up XDV®-µ LD XDV®-µ LD Close-Up XDV®-µ LD Close-Up
XDV®-SDD XDV®-µ XDV®-µ LD

Até
50%¹
melhor desempenho


4 vezes
Abertura permutável


6 vezes
filtros permutáveis

O melhor XDV®-SDD de sempre! Juntamente com o novo DPP+ obténs o instrumento mais versátil para a medição da espessura do revestimento unidimensional e multidimensional, bem como para a análise do material.

¹ Mostrar mais ¹ Mostra menos

¹ Desvio padrão significativamente melhor e, portanto, capacidade de medição ou tempo de medição significativamente reduzido em comparação com o DPP+.

Até
50%¹
melhor desempenho


Policapilar
Produzido internamente e constantemente desenvolvido²


3 opções
para o policapilar³ correcto³

Experimenta a maior estabilidade e intensidade com os pontos de medição mais pequenos. Com o aumento do desempenho do DPP+ e em combinação com a óptica policapilar, obténs resultados de medição excepcionais.

¹ ² ³ Mostrar mais ¹ ² ³ Mostra menos

¹ Desvio padrão significativamente melhor e, portanto, capacidade de medição ou tempo de medição significativamente reduzido em comparação com o DPP+.

² Policapilares, que estão constantemente a ser desenvolvidos. Óptica capilar de alta gama made by Fischer - o único fabricante mundial de instrumentos de medição de fluorescência de raios X com a sua própria produção policapilar.

³ Três diferentes policarbonatos de alta gama disponíveis - a solução certa para cada uma das suas aplicações: 10 µm sem halo-free, 20 µm sem halo-free ou 20 µm halo.

Até
50%¹
melhor desempenho


60 µm
menor ponto de medição


12 mm
a maior distância de medição
- o melhor da classe

Descubra o destaque para pequenas peças de teste de forma complexa. A incomparável distância de medição combinada com o menor ponto de medição faz do XDV®-μ LD o instrumento XRF líder da indústria.

¹ Mostrar mais ¹ Mostra menos

¹ Desvio padrão significativamente melhor e, portanto, capacidade de medição ou tempo de medição significativamente reduzido em comparação com o DPP+.

Dê uma olhada debaixo do capô da série XDV®

Descubra os modelos poderosos da nossa série XDV. Faça o Download do catalogo do respectivo modelo.

XDV®-SDD Download
XDV®-µ Download
XDV®-µ LD Download
Aplicação Medição de camadas muito finas < 0.05 µm e análise de material na gama de sub-ppm Medição de estruturas mais menores e componentes planos, também sistemas de camadas complexas Medição de estruturas mais menores e componentes de forma complexa, também sistemas de camadas complexas
Exemplos de aplicação Ouro, NiP, análise de traços, por exemplo, de acordo com RoHS Armações de chumbo, fios de ligação, componentes SMD, saliências de solda, ENIG/ENEPIG Contatos de ficha, tiras de conector, pinos e placas de circuito impresso montadas
O menor ponto de medição 0.25 mm 20 µm / 10 µm ⌀ 60 µm
Medição da distância 0 mm a 80 mm 4 mm a 5 mm / 1.5 mm a 2 mm Min. 12 mm
Altura máxima da amostra 140 mm 135 mm 135 mm
Colimador 4 vezes modificável - -
Policapilar - 20 µm halo (10 µm ou 20 µm halo-free opcional) 60 µm Policapilar de Longa Distância
Filtro primário 6 vezes modificável 4 vezes modificável 4 vezes modificável
Detector Detector de desvio de silicone de 50 mm² Detector de desvio de silicone de 20 mm² (50 mm² opcional) Detector de desvio de silicone de 50 mm² (20 mm² opcional)
Tubo de raios X Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio (ânodo de molibdénio opcional) Tubo de microfoco com ânodo de tungsténio (ânodo de molibdénio opcional)
Superfície de suporte de amostras utilizável 370mm x 320 mm 370mm x 320 mm (620mm x 530 mm opcional) 370mm x 320 mm (620mm x 530 mm opcional)
Aprovação Dispositivo de protecção total aprovado por tipo Dispositivo de protecção total de acordo com a lei alemã de protecção contra a radiação Dispositivo de protecção total de acordo com a lei alemã de protecção contra a radiação
Padrões DIN ISO 3497, ASTM B 568 DIN ISO 3497, ASTM B 568, IPC-4552-A/B, IPC-4556 DIN ISO 3497, ASTM B 568, IPC-4552-A/B, IPC-4556

Clipe de lançamento

Introduzindo uma verdadeira evolução. A série XDV® da FISCHER brilha com um novo design. Agora equipado com o processador DPP+ como padrão, reduz os teus tempos de medição ou melhora o teu desvio padrão como nunca antes. Leva o teu controlo de qualidade para o próximo nível.

XDV®-Serie

Começa a tua evolução connosco

Conhece a nova série XDV® sem compromisso.
Teremos todo o prazer em te apresentar.

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