Schauen Sie der XDV®-Serie unter die Haube
Entdecken Sie die leistungsstarken Modelle unserer XDV®-Serie. Hier im Überblick oder gerne auch als Download.
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XDV®-SDD
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XDV®-µ
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XDV®-µ LD
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| Einsatz | Messung sehr dünner Schichten < 0,05 µm und Materialanalyse im Sub-Promille-Bereich | Messung kleinster Strukturen und flacher Bauteile, auch komplexe Schichtsysteme | Messung kleinster Strukturen und komplex geformter Bauteile, auch komplexe Schichtsysteme |
| Applikationsbeispiele | Gold, NiP, Spurenanalyse z.B. nach RoHS | Lead Frames, Bonding Wires, SMD-Bauteile, Solder Bumbs, ENIG/ENEPIG | Steckkontakte, Steckerleisten, Pins und bestückte Leiterplatten |
| Kleinster Messfleck | 0,25 mm | 20 µm / 10 µm | ⌀ 60 µm |
| Messabstand | 0 mm bis 80 mm | 4 mm bis 5 mm / 1,5 mm bis 2 mm | Mind. 12 mm |
| Maximale Probenhöhe | 140 mm | 135 mm | 135 mm |
| Kollimator | 4-fach wechselbar | - | - |
| Polykapillare | - | 20 µm halo (10 µm oder 20 μm halo-frei optional) | 60 µm long Distance Polykapillare |
| Primärfilter | 6-fach wechselbar | 4-fach wechselbar | 4-fach wechselbar |
| Detektor | 50 mm² Silizium-Drift-Detektor | 20 mm² Silizium-Drift-Detektor (50 mm² optional) | 50 mm² Silizium-Drift-Detektor (20 mm² optional) |
| Röntgenröhre | Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode | Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode (Molybdänanode optional) | Mikrofokus-Röhre mit Wolframanode (Molybdänanode optional) |
| Nutzbare Probenauflagefläche | 370mm x 320 mm | 370mm x 320 mm (620mm x 530 mm optional) | 370mm x 320 mm (620mm x 530 mm optional) |
| Zulassung | Bauartzugelassenes Vollschutzgerät | Vollschutzgerät gemäß deutschem Strahlenschutzrecht | Vollschutzgerät gemäß deutschem Strahlenschutzrecht |
| Normen | DIN ISO 3497, ASTM B 568 | DIN ISO 3497, ASTM B 568, IPC-4552-A/B, IPC-4556 | DIN ISO 3497, ASTM B 568, IPC-4552-A/B, IPC-4556 |
